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磁粉检测 (MT)

磁粉探伤(MT)是无损检测(NDT)方法之一,是一种经济且直观的方法,用于检测铁磁性材料的表面及近表面缺陷。

磁粉探伤利用铁磁性材料裂纹处漏磁场,使铁粉聚集显示缺陷。

一旦存在表面或近表面缺陷,磁场会发生畸变,在缺陷周围产生局部漏磁场。此时在工件表面施加干粉或悬浮液状的微细铁粉,漏磁场区域会吸附磁粉并形成聚集。

需使用 UV-A 紫外灯照射的荧光磁粉应用广泛,同时也有彩色磁粉可供选择。磁粉检测可用于表面相对粗糙、有污物的工件,但缺陷检测灵敏度可能会受影响。

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